|
|
|
高性能X射線熒光測試儀 |
|
| 型 號：XDV -SDD |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標(biāo)：可自動(dòng)測量超薄鍍層和分析痕量元素 |
 |
瀘州高性能X射線熒光測試儀-XDV -SDD-德國菲希爾Fischer
高性能X射線熒光測試儀，東莞 涂層測厚儀，配有可編程XY平臺和Z軸，黑龍江涂層測厚儀，可自動(dòng)測量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點(diǎn)
-
高級型號儀器，深圳涂層測厚儀，具有常見的所有功能
-
射線激發(fā)量的靈活性最大，涂層測厚儀說明書，激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
-
通過硅漂移探測器，德國尼克斯涂層測厚儀，在 > 10萬cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的超高信號量下也可以正常工作，電解涂層測厚儀，而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
-
極低的檢測下限和出色的測量重復(fù)度
-
帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動(dòng)測量儀器
-
大容量便于操作的測量艙
典型應(yīng)用領(lǐng)域
-
測量極薄的鍍層，涂層測厚儀型號，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
-
痕量分析，涂層測厚儀 價(jià)格，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對有害物質(zhì)進(jìn)行檢測
-
進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
-
光伏產(chǎn)業(yè)
-
測量 NiP 鍍層的厚度和成分
-
|
