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    數(shù)字IC測(cè)試儀
    型　號(hào)：GUT-6000B
    品　牌：臺(tái)灣固緯GWINSTEK
    技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試范圍 54/74 系列 TTL
    4000 及 4500 系列 CMOS
    DRIVE
    達(dá)州數(shù)字IC測(cè)試儀-GUT-6000B-臺(tái)灣固緯GWINSTEK

    GUT-6000B是一款臺(tái)式數(shù)字IC測(cè)試儀�？蓽y(cè)試1800多種常見的TTL和CMOS器件，，真正在數(shù)字IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。

    特點(diǎn)

    循環(huán)測(cè)試
    自動(dòng)搜尋
    自我診斷
    過載保護(hù)
    測(cè)量1800種設(shè)備
    支持54/74系列TTL
    支持4000和5000系列CMOS
    測(cè)試管腳：28 pin

    測(cè)試范圍

     

    54/74 系列 TTL

    4000 及 4500 系列 CMOS

    DRIVE

    量測(cè)種類

     

    約 1800 種

    測(cè)試電壓

     

    2.5/3.0/3.3/5V DC

    測(cè)試時(shí)間

     

    高測(cè)試速度，，平均 0.6 秒可完成一個(gè) IC

    使用電源

     

    交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

    尺寸及重量

     

    335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm
    約 1.5 公斤



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