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- 精密電子分析天平,2200g,0.01gFZ-2000i
- 分析天平,610g,0.1mgME614S
- 電子分析天平,210g,0.1mgHR-200
- FX-GD系列克拉天平,3200g,0.01gFX-3000GD
- FX-iWP 系列防水精密電子天平,320g,0.001gFX-300iWP
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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號(hào) | | 主要技術(shù)指標(biāo) | 價(jià)格 從低到高 默認(rèn) | | FX-i系列精密天平,3200g,0.01g
FX-3000i | 日本AND | FX-3000i
3200g
0.01g
直徑150mm
| 洽詢
 | | FX-i系列精密天平,2200g,0.01g
FX-2000i | 日本AND | FX-2000i
2200g
0.01g
直徑150mm
| 洽詢
| | FX-i系列精密天平,1220g,0.01g
FX-1200i | 日本AND | FX-1200i
1220g
0.01g
直徑150mm
| 洽詢
| | FX-i系列精密天平,320g,0.001g
FX-300i | 日本AND | FX-300i
320g
0.001g
直徑130mm
| 洽詢
| | FX-i系列精密天平,220g,0.001g
FX-200i | 日本AND | FX-200i
220g
0.001g
直徑130mm
| 洽詢
| | 電子分析天平,120g,0.1mg
HR-120 | 日本AND | 精度 0.1mg
| 洽詢
| | 電子分析天平,310g,0.1mg
HR-300 | 日本AND | 精度 0.1mg | 洽詢
| | 微量分析天平,220g,0.1mg
GH-200 | 日本AND | 專業(yè)型高精度寬范圍微量天平 | 洽詢
| | 微量分析天平,320g,0.1mg
GH-300 | 日本AND | 專業(yè)型高精度寬范圍微量天平 | 洽詢
| | 微量分析天平,220g,0.1mg
GH-202 | 日本AND | 專業(yè)型高精度寬范圍微量天平 | 洽詢
| | 微量分析天平,250g,0.1mg
GH-252 | 日本AND | 專業(yè)型高精度寬范圍微量天平 | 洽詢
| | 電子分析天平,310g,0.1mg
GR-300 | 日本AND | 測(cè)量范圍:310克 | 洽詢
| | 電子分析天平,210g,0.1mg
GR-202 | 日本AND | 測(cè)量范圍:210/42克 | 洽詢
| | 分析天平,210g,0.1mg
GR-200 | 日本AND | 測(cè)量范圍:210克 | 洽詢
| | 電子分析天平,120g,0.1mg
GR-120 | 日本AND | 測(cè)量范圍:120克 | 洽詢
| | 電子分析天平,210g,0.1mg
HR-200 | 日本AND | 測(cè)量范圍:210克 | 洽詢
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